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当测试设备和自动测试设备(ATE)系统用于测试分立半导体它们常常需要的开关器件可以承载高脉冲电流不扭曲脉冲电流。这些脉冲电流被用来验证被测器件可以处理高和/或浪涌电流而不降低性能。高电流脉冲验证该芯片被充分地粘合到其底物。另外,在同一时间,高电压可能需要推迟高切换电压为好。使用干簧继电器实现千亿成功的脉冲操作的目标。
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