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芯片设计人员不断开发出体积更小,运行更快,更多门电路切换的新型集成电路。每块芯片上的这些成百上千万个门电路均需要测试以达到满意的运行效果。用于这类测试的设备价值上千万美元,它们被用来全天候地测试这些芯片。由于有如此多的门电路等待测试,因此对测试速度的要求很高。测试仪需要将开关并入其中以隔离所有点并通过快速脉冲传输信息。这些快速脉冲发生在皮可秒以内,可以每秒传输上百亿比特的信息。测试仪中的这些开关必须仔细选择,保证它们能完好地切换和传输这些快速脉冲,并且能上亿次可靠运行。测试设备设计人员发现MEDER特殊设计超小型继电器系列能完成上亿次运行的任务。
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